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設(shè)有通過(guò)控制點(diǎn)O的坐標(biāo)軸Ox和Oy，待放樣點(diǎn)C（圖4-153）的坐標(biāo)等于x和y。放樣是用極坐標(biāo)法，由位于Ox軸上離點(diǎn)O距離為c的點(diǎn)A來(lái)進(jìn)行。也就是說(shuō)，在A點(diǎn)測(cè)設(shè)出預(yù)先算得之角度α，再由點(diǎn)A測(cè)設(shè)距離到點(diǎn)c。因此，為了放樣C點(diǎn)，需要進(jìn)行下列工作：
放樣點(diǎn)位
1）在Ox方向上量出由點(diǎn)O到點(diǎn)A的距離。；
2）儀器對(duì)中；
3）在A點(diǎn)安置儀器測(cè)設(shè)角度α；
4）沿著所測(cè)設(shè)的方向，由A點(diǎn)量出距離b；
5）在地面上標(biāo)定C點(diǎn)的位置。
以上各項(xiàng)工作均具有一定的誤差。由于各項(xiàng)誤差都是互不相關(guān)的發(fā)生，所以彼此均是獨(dú)立的，按誤差理論可得用極坐標(biāo)法測(cè)設(shè)C點(diǎn)的總誤差：
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